| 摘要 |
Optische Untersuchungseinrichtung für ein Bauteil (12), die einen ersten und einen zweiten Untersuchungsbereich (POS B, POS C) hat, mit • einer bildgebenden Vorrichtung zum optischen Erfassen von Seitenflächen (12a, 12b, 12c, 12d, 12e) des Bauteils (12), wobei die bildgebende Vorrichtung (22) dazu eingerichtet ist, – im ersten Untersuchungsbereich (POS B) ein Bild einer der Seitenflächen des Bauteils (12) zu erfassen und – im zweiten Untersuchungsbereich (POS C) ein Bild mehrerer der Seitenflächen des Bauteils (12) zu erfassen; • einem Bauteilförderer (14), der – eine Halteeinrichtung für das Bauteil (12) hat, und der – dazu eingerichtet ist, das gehaltene Bauteil (12) entlang eines Bauteilwegs (20) zum ersten und zum zweiten Untersuchungsbereich zu fördern; wobei • die bildgebende Vorrichtung (22) – eine Bilderfassungseinrichtung (24), die dazu eingerichtet ist, auf eine Seitenfläche (12a) des Bauteils (12) am ersten Untersuchungsbereich (POS B) gerichtet zu werden, und... |
