发明名称 具有仪器探测的磁共振检查
摘要 一种用于对对象进行检查的磁共振检查系统,包括生成RF发射场的RF系统和生成时域磁梯度场的梯度系统。控制模块包括序列控制器,其用于控制所述RF系统和所述梯度系统,以生成包括用以生成磁共振信号的RF脉冲和磁梯度脉冲的采集序列。所述序列控制器被配置成产生探测扫描,所述探测扫描包括稳态梯度回波采集序列,以生成稳态梯度回波信号,并且所述探测扫描还包括RF受扰回波采集序列,以产生RF受扰回波信号。所述控制模块还包括分析单元,其用于对所述梯度回波信号和所述RF受扰回波信号进行比较,从而由所述梯度回波和所述RF受扰回波的比较结果探测对象中的仪器。
申请公布号 CN102906586A 申请公布日期 2013.01.30
申请号 CN201180025933.0 申请日期 2011.05.19
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 J·S·范登布林克
分类号 G01R33/28(2006.01)I;G01R33/561(2006.01)I 主分类号 G01R33/28(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王英;刘炳胜
主权项 一种用于检查对象的磁共振检查系统,包括:‑RF系统,其用于生成RF发射场,‑梯度系统,其用于生成时域磁梯度场,‑包括序列控制器的控制模块,其用于控制所述RF系统和所述梯度系统,以产生包括用以生成磁共振信号的RF脉冲和磁梯度脉冲的采集序列,其中,‑所述序列控制器被配置成产生探测扫描,所述探测扫描包括稳态梯度回波采集序列,以生成稳态梯度回波信号,并且所述探测扫描还包括RF受扰回波采集序列,以产生RF受扰回波信号,‑所述控制模块还包括分析单元,‑将所述梯度回波信号与所述RF受扰回波信号进行比较,并且‑从所述梯度回波与所述RF受扰回波的所述比较对所述对象中的仪器进行探测。
地址 荷兰艾恩德霍芬