发明名称 |
高速太赫兹波调制装置及其方法 |
摘要 |
本发明公开了一种高速太赫兹波调制装置及其方法。它包括太赫兹波输入端、激光输入端、太赫兹波输出端、太赫兹波探测器、半圆柱形高阻硅透镜、金属薄膜层和基体;在基体上设有金属薄膜层,金属薄膜层上设有半圆柱形高阻硅透镜,半圆柱形高阻硅透镜下底面为长方形,半圆柱形高阻硅透镜下底面与金属薄膜层相连,太赫兹波从太赫兹波输入端输入,在没有外加激光的条件下,太赫兹波被反射回太赫兹波输出端,太赫兹波输出端相应位置设有太赫兹波探测器。本发明的高速太赫兹波调制装置具有结构简单紧凑,体积小、制作方便,响应速度快,易于调节,满足在太赫兹波成像、产品检测、太赫兹无线通信系统等领域应用要求。 |
申请公布号 |
CN102902130A |
申请公布日期 |
2013.01.30 |
申请号 |
CN201210373275.0 |
申请日期 |
2012.09.27 |
申请人 |
中国计量学院 |
发明人 |
李九生 |
分类号 |
G02F1/355(2006.01)I;H04B10/516(2013.01)I |
主分类号 |
G02F1/355(2006.01)I |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 33200 |
代理人 |
张法高 |
主权项 |
一种高速太赫兹波调制装置,其特征在于包括太赫兹波输入端(1)、激光输入端(2)、太赫兹波输出端(3)、太赫兹波探测器(4)、半圆柱形高阻硅透镜(5)、金属薄膜层(6)和基体(7);在基体(7)上设有金属薄膜层(6),金属薄膜层(6)上设有半圆柱形高阻硅透镜(5),半圆柱形高阻硅透镜(5)下底面为长方形,半圆柱形高阻硅透镜(5)下底面与金属薄膜层(6)相连,太赫兹波从太赫兹波输入端(1)输入,在没有外加激光的条件下,太赫兹波被反射回太赫兹波输出端(3),太赫兹波输出端(3)相应位置设有太赫兹波探测器(4)。 |
地址 |
310018 浙江省杭州市江干经济开发区学源街 |