发明名称 校准方法
摘要 描述了一种校准测量装置的方法,其能够提供关于该装置的测量属性的更详细的信息,其中,该测量装置根据至少一个预定义的操作程序来执行测量,在该操作程序期间,要由该装置测量的量的至少一个给定值(QR)通过对应的基准或标准提供,并且通过该装置来测量和指示,记录指示的测量指示(MI)和对应的测量的量的给定值(QR),确定测量指示(MI)的至少一个的至少一个预定义特性属性(E)并且与对应的阈值范围(ER)作比较,其中,基于相应属性(E)的值的统计代表性分布来预先确定每一个阈值范围(ER),该统计代表性分布根据利用与在校准下的装置相同类型的测量装置的相应操作程序而基于执行统计代表性数量的测量的执行期间得出的测量指示(MI)确定,并且,如果至少一个确定的特性属性(E)超过相应阈值(ER),则指示在校准下的装置的潜在受损的测量属性。
申请公布号 CN102901529A 申请公布日期 2013.01.30
申请号 CN201210265402.5 申请日期 2012.07.27
申请人 恩德莱斯和豪瑟尔美斯泰科两合公司 发明人 迪米特里·韦西埃
分类号 G01D18/00(2006.01)I 主分类号 G01D18/00(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 戚传江;穆德骏
主权项 一种校准测量装置的方法,其中:‑所述测量装置根据至少一个预定义的操作程序来执行测量,在所述操作程序期间,要由所述装置测量的量的至少一个给定值(QR)通过对应的基准或标准提供,并且通过所述装置测量和指示,‑记录指示的测量指示(MI)和对应的测量的量的所述给定值(QR),‑确定所述测量指示(MI)的至少一个的至少一个预定义的特性属性(E)并且与对应的阈值范围(ER)作比较,‑其中,基于相应属性(E)的值的统计代表性分布来预先确定每一个阈值范围(ER),所述统计代表性分布根据利用与在校准下的所述装置相同类型的测量装置的相应操作程序而基于执行统计代表性数量的测量的执行期间记录的测量指示(MI)来确定,并且‑如果至少一个确定的特性属性(E)超过相应阈值范围(ER),则指示在校准下的所述装置的潜在受损的测量属性。
地址 德国威尔莱茵