发明名称 |
光谱纳米传感器测井系统和方法 |
摘要 |
使用纳米传感器来得到井下光谱测量值的测井系统和方法。可以把纳米传感器分散在进行流通、扩散或注入在井眼中的井眼流体(包括水泥泥浆)中。因为纳米传感器具有数量级为10nm到1000nm的直径,所以它们容易穿透到它们的载液可以到达的裂缝、孔和其它孔隙中。纳米传感器传送光源和记录介质以测量这些否则无法接近的区域中的光谱。然后恢复和分析纳米传感器以重建测量到的光谱,并且确定相关的材料特性。此外,光谱测量值可以显示地层和流体中某些元素和分子的存在,科学家从这些信息来确定地层流体和地层本身的组成和相。还可以使用某些触发标准来使纳米传感器测量值与特定位置、路径和/或事件相关联。 |
申请公布号 |
CN102906370A |
申请公布日期 |
2013.01.30 |
申请号 |
CN201180025452.X |
申请日期 |
2011.06.01 |
申请人 |
哈里伯顿能源服务公司 |
发明人 |
C·M·琼斯;申静;M·T·佩勒莱特;M·L·毛瑞斯 |
分类号 |
E21B47/113(2012.01)I;E21B49/00(2006.01)I |
主分类号 |
E21B47/113(2012.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
刘佳 |
主权项 |
一种测量地层性质的方法,所述方法包括:收集已经从地层经由流体流传送的纳米传感器;测量纳米传感器状态以确定与所述地层有关的光谱性质;以及报告从所述光谱性质中得到的地层数据。 |
地址 |
美国德克萨斯州 |