发明名称 电气接续类金具能耗试验方法
摘要 本发明公开了一种电气接续类金具能耗试验方法,其特征在于包括以下步骤:1)将4个被测金具通过5根试验导线串联构成测试回路;2)将测温探头紧固在试验回路中间的试验导线上;3)在试验导线上的电位测试点固定两根铜单线;4)在电流互感器的二次侧接功率计的电流测试端;5)通电;6)恒温30min结束后,对于有主支线之分的试验金具,测量和记录各电参数,计算每个金具的能耗Pf;7)3次循环测试完毕后,计算每个金具的能耗Pf平均值。本发明的试验方法可以将电气接续金具的能耗特性研究深入到定量的层面,可以为生产企业的金具优化设计和电网中金具的选型提供必要的参考数据。
申请公布号 CN102890212A 申请公布日期 2013.01.23
申请号 CN201210391119.7 申请日期 2012.10.16
申请人 浙江华电器材检测研究所;国家电网公司 发明人 余虹云;潘伟健;崔利兵;柯定芳;叶成;任凯;章益
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 代理人 沈孝敬
主权项 电气接续类金具能耗试验方法,其特征在于包括以下步骤:1)将4个被测金具通过5根试验导线串联,第一试验导线的始端和第五试验导线(a5)的末端接大电流输入,并且将其中一根试验导线穿过穿心电流互感器;所述的试验导线采用未经运行或损伤性试验的新导线,每根试验导线的长度不得小于该试验导线导体直径的100倍,当导体直径100倍小于0.5m时,则不得小于0.5m,但最长不超过4m,其中:对于有主支线之分的试验金具:a)用于单一规格导线连接的金具,试验导线的导体截面与被测金具规定的导线截面相一致;b)用于连接两种及以上导线截面的金具,主线用试验导线的导体截面与被测金具最大规格的导线截面相一致,支线用试验导线与被测金具最小规格的导线截面相一致;主线用试验导线和支线用试验导线交替连接各被测金具;对于无主支线之分的试验金具:a)用于单一规格导线连接的金具,试验导线的导体截面与被测金具规定的导线截面相一致;b)用于连接两种及以上导线截面的电力金具,试验导线的导体截面与被测金具最大规格导线截面相一致,并在相应的位置上进行试验;2)将测温探头紧固在试验回路中间的试验导线上;3)在试验导线上距离每个被测金具的两端等长的电位测试点位置,将两根直径为0.8mm±0.2mm铜单线分别紧扎3~4圈,使之与该试验导线紧密接触;4)在电流互感器的二次侧接功率计的电流测试端;所述的功率计为集成式,可同时显示电流、电压、功率因数和功率;5)让试验电流通过试验回路,使试验导线温度达到稳定状态,恒温30min;同时控制环境温度在15℃~25℃之间,如需用空调来调节实验室温度时,实验室内的风速控制在0.1m/s以内,实验室无阳光直射;6)恒温30min结束后,对于有主支线之分的试验金具,测量并记录以下参数:a)每个金具两端的电位测试点之间的能耗,得到金具两端的总能耗Pt;b)选择位于测试回路中间的一根主线用试验导线作为主线试验参考导线,测量该主线试验参考导线两端的电位测试点之间的能耗,得到主线试验参考导线的能耗Pc;c)所述主线参考试验导线两端的电位测试点之间的距离Lc;d)每个金具两端与电位测试点之间的距离l;e)选择位于测试回路中间的一根支线用试验导线作为支线试验参考导线,测量该支线试验参考导线两端的电位测试点之间的能耗,得到支线试验参考导线的能耗Pl;f)该支线参考试验导线两端的电位测试点之间的距离Ll;根据上述测量参数,通过公式(1‑1)计算每个金具的能耗Pf <mrow> <msub> <mi>P</mi> <mi>f</mi> </msub> <mo>=</mo> <msub> <mi>P</mi> <mi>t</mi> </msub> <mo>-</mo> <mfrac> <msub> <mi>P</mi> <mi>c</mi> </msub> <msub> <mi>L</mi> <mi>c</mi> </msub> </mfrac> <mo>&times;</mo> <mi>l</mi> <mo>-</mo> <mfrac> <msub> <mi>P</mi> <mi>l</mi> </msub> <msub> <mi>l</mi> <mi>l</mi> </msub> </mfrac> <mo>&times;</mo> <mi>l</mi> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1</mn> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>对于无主支线之分的试验金具,测量并记录以下参数:a)每个金具两端的电位测试点之间的能耗,得到金具两端的总能耗Pt;b)选择位于测试回路中间的一根试验导线作为试验参考导线,测量该试验参考导线两端的电位测试点之间的能耗,得到试验参考导线的能耗Pc;c)该试验参考导线两端的电位测试点之间的距离Lc;d)每个金具两端与电位测试点之间的距离l;根据上述测量参数,通过公式(1‑2)计算每个金具的能耗Pf <mrow> <msub> <mi>P</mi> <mi>f</mi> </msub> <mo>=</mo> <msub> <mi>P</mi> <mi>t</mi> </msub> <mo>-</mo> <mn>2</mn> <mo>&times;</mo> <mfrac> <msub> <mi>P</mi> <mi>c</mi> </msub> <msub> <mi>L</mi> <mi>c</mi> </msub> </mfrac> <mo>&times;</mo> <mi>l</mi> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1</mn> <mo>-</mo> <mn>2</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>7)断开试验电流,待试验导线的导体温度降至实验室温度+5℃以内时,重复步骤5)和步骤6)两次;8)3次循环完毕后,计算每个金具的能耗Pf平均值。
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