发明名称 |
ONU性能劣化的自动诊断和控制方法 |
摘要 |
本发明公开了一种ONU性能劣化的自动诊断和控制方法。所述方法应用于EPON系统中,EPON系统包括OLT、ODN和ONU,包括:110)OLT监控ONU的上行信号,当检测到信号不正常时发出系统告警,同时进入系统诊断模式;120)按照特定策略操作ONU,再对ONU的上行信号进行分析,逐步缩小范围,找出故障ONU;130)隔离发生故障的ONU。本发明提出的控制机制和诊断算法能使EPON系统自动定位和隔离故障点,使管理人员能在复杂条件下远程诊断和维护网络,大大提升了网络的运维水平。 |
申请公布号 |
CN101577584B |
申请公布日期 |
2013.01.23 |
申请号 |
CN200910061155.5 |
申请日期 |
2009.03.17 |
申请人 |
武汉长光科技有限公司 |
发明人 |
刘武;郑直;胡保民 |
分类号 |
H04B10/07(2013.01)I;H04L12/24(2006.01)I |
主分类号 |
H04B10/07(2013.01)I |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
代理人 |
王超 |
主权项 |
一种ONU性能劣化的自动诊断和控制方法,所述方法应用于EPON系统中,所述EPON系统包括OLT、ODN和ONU,其特征在于,包括:110)OLT监控ONU的上行信号,当检测到信号不正常时发出系统告警,同时进入系统诊断模式;120)按照特定策略操作ONU,再对ONU的上行信号进行分析,逐步缩小范围,找出故障ONU;130)隔离发生故障的ONU;所述步骤120)的具体步骤包括:121)从待检ONU中随机选择一定比例的ONU,保持其正常工作,剩余待检ONU和已确定正常的ONU都关掉上行光通路;122)OLT检测ONU上行光信号,若ONU的上行信号正常,则将待检ONU的范围缩小至关闭了上行光通路的那部分待检ONU,转至步骤123);若检测到ONU的上行信号不正常,返回步骤121);123)重新定义待检ONU的集合,若待检ONU的数目大于预设值,转至步骤121);否则转至步骤124);124)将所有ONU关闭,逐个开启待检ONU的上行光通路;若上行信号不正常则判定该ONU为故障ONU,若上行信号正常则将其列入正常ONU的集合;然后进入下一步;125)将124)检测完毕的ONU关闭;若待检ONU的集合不为空,则转至124),开启下一个待检ONU;若待检ONU的集合为空,则结束定位故障ONU的过程。 |
地址 |
430073 湖北省武汉市武昌关山二路四号 |