| 发明名称 | 测量构件轮廓的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种测量表面上构件轮廓的方法，其包括提供基材。所述基材包含在所述基材表面上的构件。所述构件包含壁。所述基材的表面被照明。照明所述壁的边缘以测量所述构件的第一轮廓线和第二轮廓线。基于所述第一轮廓线和所述第二轮廓线来计算所述构件的轮廓。 | ||
| 申请公布号 | CN102893291A | 申请公布日期 | 2013.01.23 |
| 申请号 | CN201080041752.2 | 申请日期 | 2010.09.17 |
| 申请人 | 欧泰克应用激光科技有限责任公司 | 发明人 | 菲卡尔·本纳亚德-彻尔里弗 |
| 分类号 | G06K9/00(2006.01)I | 主分类号 | G06K9/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人 | 李剑 |
| 主权项 | 一种测量表面上的构件的轮廓的方法，其包括：提供基材，所述基材包含处于所述基材的表面上的构件，所述构件包含壁；照明所述基材的所述表面；对所述壁的边缘成像以测量所述构件的第一轮廓线和第二轮廓线；基于所述第一轮廓线和所述第二轮廓线计算所述构件的轮廓。 | ||
| 地址 | 德国塞尔姆斯多夫 | ||