发明名称 |
一种振动变形对阵列天线电性能影响的预测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种振动变形对阵列天线电性能影响的预测方法,该方法包括:1)确定阵列天线几何模型文件;2)在ANSYS中构建其有限元模型;3)给定加速度功率谱,计算随机振动变形量,提取各个辐射单元位置偏移量;4)计算阵列天线方向图函数;5)判断是否满足设计要求。传统方法根据加速度功率谱分析天线结构强度是否满足要求,无法根据阵面变形误差确定电性能。本方法可以通过随机振动所导致偏移量实现对天线电性能预测;本方法更为简洁,可以将偏移量引入机电耦合模型计算电性能,不需要根据偏移量的变化重复电磁建模;利用本方法,分析振动对天线的影响,找出主要结构因素,以保证天线不被破坏并提高其工作状态下的电性能。 |
申请公布号 |
CN102890741A |
申请公布日期 |
2013.01.23 |
申请号 |
CN201210414471.8 |
申请日期 |
2012.10.25 |
申请人 |
西安电子科技大学 |
发明人 |
王从思;李兆;普涛;王伟;康明魁;王猛;段宝岩;黄进;保宏;王艳;宋立伟;李鹏;李娜 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
代理人 |
蔡和平 |
主权项 |
振动变形对阵列天线电性能影响的预测方法,其特征在于,该方法包括下述步骤:1)根据阵列天线的结构参数以及材料属性,确定阵列天线的几何模型参数;2)在ANSYS中构建阵列天线的结构有限元模型;3)给定阵列天线结构有限元模型的约束条件和机载随机振动加速度功率谱,计算阵列天线随机振动变形量,分别提取阵列天线有限元模型的各个辐射单元中心节点在x,y,z方向上的位置偏移量;4)根据阵列天线有限元模型辐射单元中心节点位置偏移量,利用机电耦合模型,得到阵列天线方向图函数,并绘制阵列天线方向图;5)根据阵列天线的电性能指标要求,判断计算出的阵列天线电性能是否满足要求,如果满足要求,则阵列天线结构设计合格;否则,修改阵列天线的结构参数,并重复步骤1)到步骤4),直至满足要求。 |
地址 |
710071 陕西省西安市太白南路2号 |