发明名称 |
一种背照式CMOS图像传感器的制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种背照式CMOS图像传感器的制造方法,包括在衬底中依次形成感光二极管区及至少一层金属互连层;在衬底下表面形成并刻蚀介质层,以使介质层间形成开口区域,金属互连层的金属互连线通过开口区域引出;在开口区域形成多孔硅结构,多孔硅结构的深度为衬底下表面至所述金属互连线的深度;去除介质层;以及在多孔硅结构中填充导电材料。本发明工艺简便,成本低廉,且所制造的图像传感器中的多孔硅结构与衬底应力非常小,可实现零失配。 |
申请公布号 |
CN102891158A |
申请公布日期 |
2013.01.23 |
申请号 |
CN201210413778.6 |
申请日期 |
2012.10.25 |
申请人 |
上海集成电路研发中心有限公司 |
发明人 |
李琛;康晓旭;顾学强 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
代理机构 |
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 |
代理人 |
吴世华;林彦之 |
主权项 |
一种背照式CMOS图像传感器制造方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底中依次形成感光二极管区及至少一层金属互连层;在所述衬底下表面形成并刻蚀介质层,以使所述介质层之间形成开口区域,所述金属互连层的金属互连线通过所述开口区域引出;在所述衬底下表面的所述开口区域形成多孔硅结构,所述多孔硅结构的深度为所述衬底下表面至所述金属互连线的深度;去除所述介质层;以及在所述多孔硅结构中填充导电材料。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高斯路497号 |