发明名称 一种背照式CMOS图像传感器的制造方法
摘要 本发明公开了一种背照式CMOS图像传感器的制造方法,包括在衬底中依次形成感光二极管区及至少一层金属互连层;在衬底下表面形成并刻蚀介质层,以使介质层间形成开口区域,金属互连层的金属互连线通过开口区域引出;在开口区域形成多孔硅结构,多孔硅结构的深度为衬底下表面至所述金属互连线的深度;去除介质层;以及在多孔硅结构中填充导电材料。本发明工艺简便,成本低廉,且所制造的图像传感器中的多孔硅结构与衬底应力非常小,可实现零失配。
申请公布号 CN102891158A 申请公布日期 2013.01.23
申请号 CN201210413778.6 申请日期 2012.10.25
申请人 上海集成电路研发中心有限公司 发明人 李琛;康晓旭;顾学强
分类号 H01L27/146(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人 吴世华;林彦之
主权项 一种背照式CMOS图像传感器制造方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底中依次形成感光二极管区及至少一层金属互连层;在所述衬底下表面形成并刻蚀介质层,以使所述介质层之间形成开口区域,所述金属互连层的金属互连线通过所述开口区域引出;在所述衬底下表面的所述开口区域形成多孔硅结构,所述多孔硅结构的深度为所述衬底下表面至所述金属互连线的深度;去除所述介质层;以及在所述多孔硅结构中填充导电材料。
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