发明名称 光阻材料及图型之形成方法
摘要 本发明系一种正型光阻材料,其特征系含有:藉由酸之作用提高对硷显像液之溶解性的树脂成分(A)及感应活性光线或辐射线产生酸的化合物(B),再含有一种以上之分子量150以上之酸性有机化合物(C)。;本发明之光阻材料系在微细加工技术,特别是ArF微影技术中,不仅高解像性,且可达成降低缺陷,非常适合精密之微细加工。
申请公布号 TWI383261 申请公布日期 2013.01.21
申请号 TW096112085 申请日期 2007.04.04
申请人 信越化学工业股份有限公司 日本 发明人 西恒宽;山崎元秀;土谷纯司;渡边武
分类号 G03F7/039;C08F20/10;H01L21/027 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本