发明名称 矽晶圆的研磨方法及制造方法及圆盘状工作件的研磨装置、以及矽晶圆
摘要 一种矽晶圆的研磨方法及制造方法、以及矽晶圆,该矽晶圆的研磨方法,系研磨在背面侧形成有氧化膜的矽晶圆的方法,其中去除前述矽晶圆斜角部的氧化膜之同时,以使氧化膜的厚度从该晶圆背面的最外周部至少2毫米内侧起朝向外侧变薄的方式,来研磨该晶圆的背面外周部的氧化膜。;藉此,提供一种矽晶圆的研磨方法及制造方法、以及为了适合实施该方法之圆盘状工作件的研磨装置、及即使背面形成有氧化膜在操作处理后粒子亦不会附着在晶圆表面上,亦不会有因自动掺杂而使电阻率下降之矽晶圆,该矽晶圆的研磨方法及制造方法可以防止操作处理后的粒子附着在晶圆表面上,亦不会有因自动掺杂而使电阻率下降,更不会使生产率下降。
申请公布号 TWI382894 申请公布日期 2013.01.21
申请号 TW094145628 申请日期 2005.12.21
申请人 信越半导体股份有限公司 日本 发明人 水岛一寿
分类号 B24B9/00;H01L21/304 主分类号 B24B9/00
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项
地址 日本