发明名称 光电模组及其制造方法
摘要 本发明涉及一种光电模组,其包含:一承载元件;至少一施加在该承载元件上且在电性上连接至该承载元件之终端电极之半导体组件,其用来发出-或侦测电磁辐射且具有一辐射耦合面;以及至少一光学装置,其配属于该半导体组件。在辐射耦合面和光学装置之间之气隙中配置一由可透过辐射-且可变形的材料所构成的连接层,其中该光学装置和半导体组件须互相固定,使其互相压紧且该连接层须受到挤压,使该连接层产生一种力,该力压向该光学装置和该辐射耦合面而试图使它们分开。本发明另涉及上述光电模组之制造方法。
申请公布号 TWI291242 申请公布日期 2007.12.11
申请号 TW093134858 申请日期 2004.11.15
申请人 欧斯朗奥托半导体股份有限公司 发明人 赛门布鲁梅尔
分类号 H01L33/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;林荣琳 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 1.一种光电模组,其包含: -一承载元件,其具有电性终端电极和电性导线, -至少一个施加在该承载元件上且在电性上连接至 该承载元件之终端电极的半导体组件,其用来发出 或侦测电磁辐射且具有一辐射耦合面,以及 -至少一光学装置,其配属于该半导体组件,其特征 为: 在辐射耦合面和光学装置之间之气隙中配置一由 可透过辐射且可变形的材料所构成的连接层,其中 该光学装置和半导体组件须互相固定,使其互相压 紧且该连接层须受到挤压,使该连接层产生一种力 ,该力压向该光学装置和该辐射耦合面而试图使它 们分开。 2.如申请专利范围第1项之光电模组,其中该连接层 所具有之厚度至少是30m,较佳是至少100m。 3.如申请专利范围第2项之光电模组,其中该连接层 之厚度大于或等于150m且小于或等于350m。 4.如申请专利范围第1项之光电模组,其中该连接层 具有一种清漆,较佳是电路板清漆,其在硬化状态 中是可变形的。 5.如申请专利范围第1至4项中任一项之光电模组, 其中该承载元件之表面至少一部份涂布一种材料 以作为保护用使不受外界所影响,该材料亦包含在 该连接层中。 6.如申请专利范围第1至4项中任一项之光电模组, 其中该连接层之折射率是依据半导体组件之与该 连接层相邻接的材料的折射率来调整及/或依据该 光学装置之与该连接层相邻接的材料的折射率来 调整。 7.如申请专利范围第1至4项中任一项之光电模组, 其中该光学装置具有反射式及/或折射式元件。 8.如申请专利范围第1至4项中任一项之光电模组, 其中该半导体组件是一种电致发光二极体组件。 9.如申请专利范围第1至4项中任一项之光电模组, 其中该半导体组件是一种可表面安装的组件。 10.一种光电模组之制造方法,其包含至少以下各步 骤: -制备: -一种承载元件,其具有电性终端电极和电性导线, -一种半导体组件,其可发出或侦测电磁辐射且具 有一种辐射耦合面,以及 -一种光学装置; -于该承载元件上施加该半导体组件且使该半导体 组件在电性上连接至终端电极;以及 -在该半导体组件之辐射耦合面上安装该光学装置 ,其特征为: -在安装该光学装置之前至少在该半导体组件之辐 射耦合面上施加一种可硬化且在硬化状态中可透 过辐射且可变形的材料, -已施加的材料至少一部份须硬化或可硬化,以及 -该光学装置和半导体组件须互相固定,使其互相 压紧且该连接层须受到挤压,使该连接层产生一种 力,该力压向该光学装置和该辐射耦合面而试图使 它们分开。 11.如申请专利范围第10项之制造方法,其中该材料 以层的形式施加而成,该层所具有之厚度至少是30 m,较佳是至少100m。 12.如申请专利范围第11项之制造方法,其中该材料 以层的形式施加而成,该层之厚度大于或等于150 m且小于或等于350m。 13.如申请专利范围第10至12项中任一项之制造方法 ,其中该材料具有一种清漆,较佳是一种电路板清 漆,其在硬化状态中可变形。 14.如申请专利范围第10项之制造方法,其中至少在 该承载元件之表面之一部份上施加该材料以进行 保护使不受外界所影响。 15.如申请专利范围第14项之制造方法,其中施加该 材料于该辐射耦合面上及该承载元件之表面上时 是以唯一的步骤来达成。 图式简单说明: 第1图 本方法之一实施例之一阶段中该光电模组 的切面之一部份。 第2图 光电模组之一实施例之切面图之一部份。
地址 德国
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