发明名称 |
Deflektometrische Anordnung zur Oberflächeninspektion |
摘要 |
Die Erfindung betrifft eine deflektometrische Anordnung mit einer in einem Hell-Dunkel-Muster leuchtenden ebenen Musterfläche 1, die eine ebene Oberfläche 3 eines von einer Aufnahme 5 gehaltenen Objektes schräg beleuchtet sowie einer Kamera 2 zur Abbildung eines Reflexbildes umfassend ein Objektiv 2.1. Das Objektiv 2.1 und der Matrixempfänger 2.2 sind so angeordnet sind, dass der Matrixempfänger 2.2 und damit die Bildebene BE in einer zur ebenen Oberfläche 3 konjugierten Ebene angeordnet ist, womit die Objektebene OE der Kamera 2 auf der Oberfläche 3 liegt. |
申请公布号 |
DE102011051781(A1) |
申请公布日期 |
2013.01.17 |
申请号 |
DE20111051781 |
申请日期 |
2011.07.12 |
申请人 |
GOEPEL ELECTRONIC GMBH |
发明人 |
SCHAMBACH, JOERG;TUERK, ANDREAS;HIERONYMUS, ROBERT |
分类号 |
G01B11/24;G01B11/25;G01N21/88 |
主分类号 |
G01B11/24 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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