发明名称 填充间隙的填料、其制备方法及制造半导体电容器的方法
摘要 本发明公开了一种填充间隙的填料、其制备方法及制造半导体电容器的方法。所述填充间隙的填料包含由下列化学式1表示的化合物:[化学式1]SiaNbOcHd在化学式1中,1.96<a<2.68,1.78<b<3.21,0≤c<0.19,且4<d<10。
申请公布号 CN102874813A 申请公布日期 2013.01.16
申请号 CN201210241251.X 申请日期 2012.07.11
申请人 第一毛织株式会社 发明人 朴银秀;金奉焕;林相学;郭泽秀;裵镇希;尹熙灿;金相均;李真旭
分类号 C01B33/00(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 C01B33/00(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 李丙林;王玉桂
主权项 一种用于填充间隙的填料,包含由下列化学式1表示的化合物:[化学式1]SiaNbOcHd其中,在化学式1中,1.96<a<2.68,1.78<b<3.21,0≤c<0.19,且4<d<10。
地址 韩国庆尚北道