一种电光晶体压电振铃效应测量装置及其测量方法

摘要

本发明涉及激光技术领域，特别涉及一种电光晶体压电振铃效应测量装置及其测量方法，一种电光晶体压电振铃效应测量装置，包括光电探测器A和光电探测器B，在入射光路的中心线上依次设有薄膜偏振片D、1/2波片、法拉第光学旋转器、薄膜偏振片B、1/4波片、测试装置和全反镜，所述测试装置由高压驱动电源驱动，所述光电探测器A用于探测薄膜偏振片D上的反射光，所述光电探测器B用于探测薄膜偏振片B上的反射光。本发明在测量电光晶体振铃效应时，所需的高压驱动电源提供的电压降低了一倍，并且本发明可以实现BBO、KD*P等这种高电压晶体的压电振铃效应的测量。

主权项

一种电光晶体压电振铃效应测量装置，包括光电探测器A（18）和光电探测器B（19），其特征在于，在入射光路的中心线上依次设有薄膜偏振片D（17）、1/2波片（15）、法拉第光学旋转器（14）、薄膜偏振片B（13）、1/4波片（11）、测试装置（9）和全反镜（8），所述测试装置（9）由高压驱动电源（10）驱动，所述光电探测器A（18）用于探测薄膜偏振片D（17）上的反射光，所述光电探测器B（19）用于探测薄膜偏振片B（13）上的反射光。