发明名称 | 基于模块化的多通道二极管测试系统和方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于模块化的多通道二极管测试系统和方法,本系统包括上位机系统和下位机系统,其中上位机系统包括工控机、数据采集卡、数字I/O卡以及光电隔离接口板,下位机系统包括四个可复用的测试电路模块以及其中的三个功能板块。本系统根据测试功能进行模块化设计,能进行正向压降VF、崩溃电压VB、反向漏电流IR、正向电压差ΔVF、电压差ΔVB1和ΔVB2的参数测试,能在测试流水线完成二极管的多通道、高精度测试。本发明的有益效果是:1)提高测试精度;2)提高测试系统的可维护性和可扩展性;3)提高测试系统的灵活性并降低测试成本。 | ||
申请公布号 | CN102879721A | 申请公布日期 | 2013.01.16 |
申请号 | CN201210346708.3 | 申请日期 | 2012.09.19 |
申请人 | 上海大学 | 发明人 | 郭帅;叶丰;施玮;李健 |
分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人 | 何文欣 |
主权项 | 一种基于模块化的多通道二极管测试系统,包括:一个上位机系统(I)连接一个下位机系统(II);其特征在于:所述的上位机系统(I)是一个工控机(1),分别经过一个数据采集卡(2)和一个数字I/O卡(3),连接光电隔离接口板一(4)和光电隔离接口板二(5);所述的下位机系统(II)是四个可复用的测试电路模块(6、7、8、9)连接所述光电隔离接口板(4、5),与数据采集卡的多通道模拟输入输出配合实现多测试点的测试。 | ||
地址 | 200444 上海市宝山区上大路99号 |