| 摘要 |
Przedmiotem wynalazku jest kontakt elektryczny do badania materiałów osadzonych na podłożu izolacyjnym, zwłaszcza takich materiałów jak azotek galu GaN, tlenek cynku ZnO, czy indowo - galowy tlenek cynku IGZO. Kontakt elektryczny ma kontakt omowy (4) oraz kontakt prostujący (3), znajdujące się na badanej warstwie (2). Kontakt omowy (4) tworzy warstwa stopu eutektycznego galu, indu i cyny, znajdująca się między badaną warstwą (3) a elektrodą pomiarową (5). Natomiast kontakt prostujący (3) rtęć z kapilary sondy rtęciowej, przy czym powierzchnia kontaktu omowego jest co najmniej dziesięć razy większa niż powierzchnia kontaktu prostującego. |
