发明名称 | 锡铅合金镀层铅含量的测定方法 | ||
摘要 | 一种锡铅合金镀层铅含量的测定方法,其特征在于:该方法使用X荧光分析仪与计算机相连,通过配置锡铅合成标样,确定不同铅百分含量标样的X射线能量强度,建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,利用Edx3000、exe全元素分析程序与锡铅分析曲线进行对比,测定得出产品或零部件锡铅合金镀层铅含量,本发明适用、简便、快捷,投入低,分析结果重现性好、精密度高、准确可靠,对所分析的产品无任何损伤。 | ||
申请公布号 | CN102879414A | 申请公布日期 | 2013.01.16 |
申请号 | CN201210389024.1 | 申请日期 | 2012.10.15 |
申请人 | 贵州天义电器有限责任公司 | 发明人 | 程伟;雷国玉 |
分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 | 遵义市遵科专利事务所 52102 | 代理人 | 宋妍丽 |
主权项 | 一种锡铅合金镀层铅含量的测定方法,其特征在于:该方法使用X荧光分析仪与计算机相连,通过配置锡铅合成标样,确定不同铅百分含量标样的X射线能量强度,建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,利用Edx3000、exe全元素分析程序与锡铅分析曲线进行对比,测定得出产品或零部件锡铅合金镀层铅含量,具体步骤如下:a)将X荧光分析仪与计算机相连;b)根据等测试产品或零部件锡铅镀层含量允许数值范围,称取4~5组以上不同数值的锡、铅材料混合,熔炼配置合成标样,对每一熔炼后标样中铅百分含量用化学分析法进行计算,确定其真值,将上述所有标样用X荧光分析仪扫描后建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,输入计算机;c)用X荧光分析仪扫描合成标样,通过Edx3000.exe全元素分析程序和所述分析曲线,计算机即可自动确定显示标样镀层中铅百分含量数值,将该数值与上述化学分析计算所得真值进行比较,验证X荧光分析仪和上述分析曲线的准确性;d)用X荧光分析仪扫描产品或零部件,计算机即可显示其锡铅合金镀层铅含量。 | ||
地址 | 563000 贵州省遵义市汇川区隋阳路1号 |