发明名称 | 伪像校正 | ||
摘要 | 对感兴趣对象的图像重建可能引入沿着吸收值的高梯度线的伪像。根据本发明的一个示范性实施例,通过在图像重建期间执行统计加权来有效地去除这些伪像。有利地,根据本发明的一个方面,可以反复执行图像重建,其中利用所测量的光子计数的固有统计误差对所述更新进行加权。这样能够有效地去除伪像。 | ||
申请公布号 | CN1930586B | 申请公布日期 | 2013.01.16 |
申请号 | CN200580007787.3 | 申请日期 | 2005.03.08 |
申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | A·齐格勒 |
分类号 | G06T11/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T11/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 程天正;王忠忠 |
主权项 | 1.一种在通过产生射束的电磁辐射源和通过检测所述射束的辐射检测器采集的感兴趣对象的投影数据集中的伪像校正的方法,所述方法包括以下步骤:在所述投影数据集的采集期间,确定检测到的光子数量;和基于所述投影数据集,重建所述感兴趣对象的图像;其中在所述图像的重建期间执行统计加权,其中所述加权基于所述检测到的光子数量的统计误差,其中所述图像的重建基于包括多个更新步骤的迭代算法来执行,直到已经满足结束标准,其中每一个更新步骤包括利用基于检测到的光子数量Y<sub>i</sub>的固有统计误差<img file="FSB00000910965800011.GIF" wi="49" he="47" />对更新中的减法进行加权,其中<img file="FSB00000910965800012.GIF" wi="47" he="43" />是Y<sub>i</sub>的平方根。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |