封装芯片金相制样方法以及金相样品模具

摘要

本发明提供了一种封装芯片金相制样方法以及金相样品模具。将第一塑料膜按照封装芯片取样件的外形尺寸裁剪出模具膜片。将模具膜片卷绕成圆柱状，并利用粘接体粘接模具膜片所绕成的圆柱状的交接口。利用包封体将圆柱状模具膜片的一端包封。将第二塑料膜裁剪成特定尺寸的弹性塑料卷。将所述第二塑料膜的两端卷曲以形成夹持片状固体物的卷绕式的塑料平衡夹。将塑料平衡夹夹持在封装芯片的两侧边底部，并且在对塑料平衡夹与封装芯片的接触区域进行点胶固化之后将它们放入制作的制样模具内，并使之与制样模具底部的包封体粘合。根据本发明，提供一种能够实现任意尺寸的制样模具制作并能实现树脂制样的水平度与垂直度控制的封装芯片金相制样方法。

主权项

一种封装芯片金相制样方法，其特征在于包括：第一模具制作步骤：将第一塑料膜按照封装芯片取样件的外形尺寸裁剪出模具膜片；第二模具制作步骤：将模具膜片卷绕成圆柱状，并利用粘接体粘接模具膜片所绕成的圆柱状的交接口；第三模具制作步骤：利用包封体将圆柱状模具膜片的一端包封。