发明名称 非挥发性存储器的仿真验证方法
摘要 本发明公开了一种非挥发性存储器的仿真验证方法,包括:获取仿真存储器,所述仿真存储器具有针对擦除步骤的内部时钟参数,所述内部时钟参数被设置为低于正常值;生成测试代码,依据所述测试代码对存储器的功能进行仿真验证,所述测试代码包括擦除代码和擦除块的地址代码;依据所述擦除块的地址代码确定目标擦除块,并按照所述擦除代码和内部时钟参数对目标擦除块进行擦除步骤的仿真验证。本发明可以在能够保证仿真验证结果的基础上,减少针对存储器功能的仿真验证的时间,提高采用虚拟存储器的仿真验证效率。
申请公布号 CN101887758B 申请公布日期 2013.01.16
申请号 CN200910083915.2 申请日期 2009.05.12
申请人 北京兆易创新科技有限公司 发明人 舒清明;涂美红;胡洪
分类号 G11C29/00(2006.01)I;G06F9/445(2006.01)I;G06F11/36(2006.01)I;G11C11/40(2006.01)I;G11C16/02(2006.01)I 主分类号 G11C29/00(2006.01)I
代理机构 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人 苏培华
主权项 一种非挥发性存储器的仿真验证方法,其特征在于,包括:获取虚拟存储器,所述虚拟存储器具有针对擦除步骤的三个内部时钟参数,所述内部时钟参数被设置为低于正常值;所述擦除步骤包括预编程操作、擦除操作和软编程操作;所述内部时钟参数包括针对所述擦除操作的第一内部时间参数,针对预编程操作的第二内部时钟参数,以及,针对软编程操作的第三内部时钟参数;其中,所述第一内部时钟参数被设置为低于第一正常值,所述第二内部时钟参数被设置为低于第二正常值,所述第三内部时钟参数被设置为低于第三正常值;所述第一正常值为499968个内部时钟;所述第二正常值为50个内部时钟;所述第三正常值为2000个内部时钟;生成测试代码,依据所述测试代码对存储器的功能进行仿真验证,所述测试代码包括擦除代码和擦除块的地址代码;依据所述擦除块的地址代码确定目标擦除块,并按照所述擦除代码和内部时钟参数对目标擦除块进行擦除步骤的仿真验证。
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