记忆装置及其测试方法

摘要

本发明提供一种记忆装置及其测试方法，可以侦测二记忆体阵列间的耦合错误。该记忆装置包含一记忆体阵列单元及一测试模组。该记忆体阵列单元包括一值记忆体阵列及一遮罩记忆体阵列。该测试模组耦接至该记忆体阵列单元，用以根据一测试规则来产生一测试图样讯号至该记忆体阵列单元，以执行记忆体测试。其中，该测试规则包括M个用于测试该值记忆体阵列之第一测试片段，及N个用于测试该遮罩记忆体阵列之第二测试片段，该M个第一测试片段与该N个第二测试片段在该测试规则中交错排列，M与N系为大于或等于2的整数。