ADAPTER FOR AN EXAMINATION APPARATUS AND EXAMINATION APPARATUS FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARDS

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft einen Adapter für einen Paralleltester zum Testen von unbestückten Leiterplatten und einen Paralleltester zum Testen von unbestückten Leiterplatten. Erfindungsgemäß sind in mehreren Führungsbohrungen (22) einer angrenzend zu einem Prüfling (6) anordbaren Prüflingskontaktierungsplatte (15) jeweils zumindest zwei Prüfnadeln (19) angeordnet und diese Prüfnadeln (19) sind voneinander elektrisch isoliert. Hierdurch ist es möglich in einem Paralleltester eine Vier-Draht-Messung durchzuführen und dennoch eine hohe Dichte an Kontaktstellen bereitzustellen.