| 发明名称 | 集成电路测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种集成电路测试方法，包括设计指标参数确定、电路图输入、前仿真、版图设计、版图验证&寄生参数提取、后仿真、流片，其特征在于，前仿真和后仿真使用晶体管级SPICE网表，该晶体管级SPICE网表能转换为自动测试平台所需文件。本发明的测试方法可以极大地缩短芯片测试人员原有编写测试向量的时间，加快测试的进度；还可以避免设计人员和测试人员之间的理解偏差，完成无缝对接。 | ||
| 申请公布号 | CN102866349A | 申请公布日期 | 2013.01.09 |
| 申请号 | CN201110187477.1 | 申请日期 | 2011.07.05 |
| 申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 郝乐;宿晓慧;韩郑生;罗家俊 |
| 分类号 | G01R31/3167(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3167(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人 | 陈红 |
| 主权项 | 一种集成电路测试方法，包括设计指标参数确定、电路图输入、前仿真、版图设计、版图验证&寄生参数提取、后仿真、流片，其特征在于，前仿真和后仿真使用晶体管级SPICE网表，该晶体管级SPICE网表能转换为自动测试平台所需文件。 | ||
| 地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3# | ||