发明名称 一种N型纵向高耐压的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管
摘要 一种N型纵向高耐压的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管,包括:P型硅衬底,在P型硅衬底上设有N-漂移区及P型体区,且P型硅衬底的上表面为N-漂移区及P型体区覆盖,在P型体区上方设有N型源区、P型体接触区及栅氧化层,在N-漂移区上方设有N型缓冲层,在N型缓冲层上方设有N型漏区,在栅氧化层上方设有多晶硅栅,在N型源区、P型体接触区、多晶硅栅、N-漂移区、N型漏区上方设有场氧化层,在N型源区及P型体接触区上接有穿通场氧化层的第一金属引线,多晶硅栅接有穿通场氧化层的第二金属引线,N型漏区接有穿通场氧化层的第三金属引线,其特征在于,在P型硅衬底上设有超结结构,超结结构由连接漏区及衬底方向相间分布的N型区和P型区构成。
申请公布号 CN102867845A 申请公布日期 2013.01.09
申请号 CN201210366193.3 申请日期 2012.09.27
申请人 东南大学 发明人 祝靖;林吉勇;杨卓;钱钦松;孙伟锋;陆生礼;时龙兴
分类号 H01L29/06(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I 主分类号 H01L29/06(2006.01)I
代理机构 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人 黄明哲;朱芳雄
主权项 一种N型纵向高耐压的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管,包括:P型硅衬底(1),在P型硅衬底(1)上设有N‑漂移区(2)及P型体区(3),且P型硅衬底(1)的上表面为N‑漂移区(2)及P型体区(3)覆盖,在P型体区(3)上方设有N型源区(4)、P型体接触区(5)及栅氧化层(8),在N‑漂移区(2)上方设有N型缓冲层(13),在N型缓冲层(13)上方设有N型漏区(12),在栅氧化层(8)上方设有多晶硅栅(9),在N型源区(4)、P型体接触区(5)、多晶硅栅(9)、N‑漂移区(2)、N型漏区(12)上方设有场氧化层(6),在N型源区(4)及P型体接触区(5)上接有穿通场氧化层(6)的第一金属引线(7),多晶硅栅(9)接有穿通场氧化层(6)的第二金属引线(10),N型漏区接有穿通场氧化层(6)的第三金属引线(11),其特征在于,在P型硅衬底(1)上设有超结结构,超结结构由连接漏区及衬底方向相间分布的N型区(14)和P型区(15)构成。
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