发明名称 |
一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统 |
摘要 |
本实用新型公开一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统,它由高重频窄脉冲激光源、衰减片、分光棱镜、透射式目标模块、反射式目标模块、检偏器及旋转电机组件、第一单光子探测器、一维电动平台、第二单光子探测器、单光子计数器、电机控制器和计算机组成,特别适用于自动化测量的场合。该专利基于光学偏振原理,采用双光路补偿、单光子探测等技术,设计合理可行的光机结构,利用计算机自动控制各旋转电机和电动平台,最终实现自动化测量目标对单光子偏振态影响的目的。 |
申请公布号 |
CN202661173U |
申请公布日期 |
2013.01.09 |
申请号 |
CN201220104025.2 |
申请日期 |
2012.03.19 |
申请人 |
中国科学院上海技术物理研究所 |
发明人 |
杨世骥;王建宇;贾建军;舒嵘;何志平;吴金才;江昊 |
分类号 |
G01J4/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01J4/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
郭英 |
主权项 |
一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统,它由高重频窄脉冲激光源(1)、衰减片(2)、分光棱镜(3)、透射式目标模块(4)、反射式目标模块(5)、检偏器及旋转电机组件(6)、第一单光子探测器(7)、一维电动平台(8)、第二单光子探测器(9)、单光子计数器(10)、电机控制器(11)和计算机(12)组成,其特征在于:由高重频窄脉冲激光源(1)出射的激光经由衰减片(2)将每脉冲能量衰减到单光子水平,再经过分光棱镜(3)分成确定能量比的两路光信号:一路直接被第二单光子探测器(9)探测,再由单光子计数器(10)计数得到参考值;另一路光信号由目标材料的光传播方向特性决定采用透射式目标模块(4),此时光信号先经过第一起偏器及旋转电机组件(4.1)再经过透射目标(13);或者反射式目标模块(5),此时光信号先经两块反射面与入射光线成45度的第一反射镜(5.1)和第二反射镜(5.2)反射,再在一块与目标表面平行的第三反射镜(5.4)表面发生反射,经过第二起偏器及旋转电机组件(5.5)起偏,最后在目标(13)表面发生反射;然后经过检偏器及旋转电机组件(6)检偏后,由第一单光子探测器(7)探测,再由单光子计数器(10)计数得到实际测量值。 |
地址 |
200083 上海市虹口区玉田路500号 |