发明名称 一种电子元件引脚检测装置
摘要 本实用新型涉及一种电子元件检测装置,特别是指一种电子元件引脚检测装置,包括固定装置、两个检测探针及两个检测头,所述两个检测探针之间相互绝缘,两个检测头之间相互电连接,所述固定装置上设置有两个阶梯槽,所述两个检测头分别设置于两个阶梯槽的上端部,初始状态时,同一阶梯槽内检测探针的上端与检测头的下端之间有间隙,当被检测的电子元件的引脚合格时,所述同一阶梯槽内的检测探针的上端与检测头的下端相互抵接。若所有检测头与检测探针抵接,检测装置中从信号输入接口板至信号输出接口板构成一回路,以此可判断元件引脚正常,反之可判断存在引脚异常,元件不合格,从而实现对电子元件的引脚情况进行检测。
申请公布号 CN202661566U 申请公布日期 2013.01.09
申请号 CN201220279517.5 申请日期 2012.06.14
申请人 东莞市新泽谷机械制造股份有限公司 发明人 苏凯波;钟显辉;黎旺;曾翔清;陈卓标
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人 张明
主权项 一种电子元件引脚检测装置,其特征在于:包括固定装置、两个检测探针(1)及两个检测头(2),所述两个检测探针(1)之间相互绝缘,两个检测头(2)之间相互电连接,所述固定装置上设置有两个阶梯槽(3),所述两个检测头(2)分别设置于两个阶梯槽(3)的上端部,所述两个检测探针(1)分别设置于两个阶梯槽(3)的下端部,一个检测探针(1)连接有信号输入接口板(4),另一个检测探针(1)连接有信号输出接口板(5);初始状态时,同一阶梯槽(3)内检测探针(1)的上端与检测头(2)的下端之间有间隙,当被检测的电子元件的引脚合格时,所述同一阶梯槽(3)内的检测探针(1)的上端与检测头(2)的下端相互抵接。
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