测试存储阵列的方法及控制装置

摘要

一种测试存储阵列的方法及控制装置，所述存储阵列中，同一列的存储单元共用一条位线，同一行的存储单元共用一条字线，每两行存储单元共用一条源线，所述测试方法包括：施加源线测试电压至与存储单元连接的所有源线；施加不为0V的位线测试电压至与存储单元连接的所有位线；施加0V电压至与存储单元连接的所有字线；经过预定测试时间后，去除施加的测试电压，读取每个存储单元的测试电流，将所述测试电流与参考电流进行比较，输出比较结果；根据所述比较结果，判断每个存储单元是否合格；其中，所述位线测试电压小于所述源线测试电压。本发明技术方案提供了一种测试存储阵列的方法及控制装置，减小了对小尺寸存储单元组成的存储阵列的测试时间。

主权项

一种测试存储阵列的方法，所述存储阵列中，同一列的存储单元共用一条位线，同一行的存储单元共用一条字线，每两行存储单元共用一条源线，其特征在于，包括：施加源线测试电压至与存储单元连接的所有源线；施加不为0V的位线测试电压至与存储单元连接的所有位线；施加0V电压至与存储单元连接的所有字线；经过预定测试时间后，去除施加的测试电压，读取每个存储单元的测试电流，将所述测试电流与参考电流进行比较，输出比较结果；根据所述比较结果，判断每个存储单元是否合格；其中，所述位线测试电压小于所述源线测试电压。