发明名称 一种用于直流开关试验的试验回路
摘要 本发明涉及一种用于直流开关试验的试验回路,包括电流源以及与电流源连接的试验电路部分,所述电流源由低频振荡回路、合闸开关、避雷器和保护球组成,所述低频振荡回路的输出端与合闸开关和避雷器连接成回路,所述保护球一端通过合闸开关接在低频振荡回路输出端的高电位上,保护球的另一端接低频振荡回路输出端的低电位;所述试验电路部分由直接试验回路和合成试验回路组成。本发明提出了直流开关的试验回路,即用两个试验回路联合对待测直流开关开断性能进行考核。直接试验考核直流开关的电弧同辅助回路的相互作用的能力;较高的di/dt下的熄弧能力。合成试验考核直流开关开断电流后承受恢复电压的能力。
申请公布号 CN102129033B 申请公布日期 2013.01.09
申请号 CN201010602739.1 申请日期 2010.12.23
申请人 中国西电电气股份有限公司 发明人 刘朴;洪深;那虎
分类号 G01R31/327(2006.01)I 主分类号 G01R31/327(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 汪人和
主权项 一种用于直流开关试验的试验回路,包括电流源以及与电流源连接的试验电路部分,其特征在于:所述电流源由低频振荡回路、合闸开关(HK)、避雷器(P)和保护球(DQ1)组成,所述低频振荡回路的输出端与合闸开关(HK)和避雷器(P)连接成回路,所述保护球(DQ1)一端通过合闸开关(HK)接在低频振荡回路输出端的高电位上,保护球(DQ1)的另一端接低频振荡回路输出端的低电位;所述试验电路部分由直接试验回路和合成试验回路组成;所述直接试验回路包括第一、二、三磁位计(CT1、CT2、CT3)、电感(Lc)、第一、二辅助开关(FK1、FK2)、弧压测量装置和电压测量装置,所述第二辅助开关(FK2)、待测直流开关(SP)、第一、二、三磁位计(CT1、CT2、CT3)、电感(Lc)依次连接成回路,所述第二磁位计(CT2)的低电位接地;所述待测直流开关(SP)和第一磁位计(CT1)的串联电路上并联有弧压测量装置和待测设备的辅助回路;所述电压测量装置一端连接在待测直流开关(SP)的高电位端,另一端接地;所述第二磁位计(CT2)的低电位端与电流源输出端的低电位连接,所述待测直流开关(SP)的高电位端与电流源输出端的高电位连接;所述合成试验回路包括电压源,第三、四辅助开关(FK3、FK4),第四、五磁位计(CT4、CT5);所述电压源的输出端并联有待测直流开关(SP)和第四磁位计(CT4)的串联电路,所述第四磁位计(CT4)的低电位接地;所述第三、四辅助开关(FK3、FK4)和第五磁位计(CT5)串联后与待测直流开关(SP)和第四磁位计(CT4)的串联电路并联;所述第三、四辅助开关(FK3、FK4)之间连接至电流源输出的高电位端,所述第五磁位计(CT5)连接至电流源输出端的低电位上。
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