一种基于几何规划的大规模集成电路回归测试管理方法

摘要

本发明公开了一种大规模集成电路(VLSI)设计验证电子设计自动化(EDA)领域中的回归测试管理方法。此方法将功能覆盖率及磁盘用量建模为时间的幂函数，在总的计算时间受限和磁盘用量受限的条件下，基于几何规划方法求出计算资源分配方案，适当变动总计算时间上限T及总磁盘用量上限S，得到计算资源最优分配曲线，此曲线是管理者对回归测试进行计算资源分配的依据。此方法能够充分发挥计算资源的最大效能，得到最大的功能覆盖率，使得可用的计算资源进行有效分配达到最佳的测试效率，减少了设计工作与验证工作的反复迭代，缩短产品开发周期。

主权项

1.一种大规模集成电路设计验证的回归测试管理方法，其特征在于：将功能覆盖率及磁盘用量建模为时间的幂函数，在总的计算时间受限和磁盘用量受限的条件下，基于几何规划方法求出计算资源分配方案，适当变动总计算时间上限T及总磁盘用量上限S，得到计算资源最优分配曲线，此曲线是管理者对回归测试进行计算资源分配的依据，此方法的步骤如下：1)运行各个回归测试，收集功能覆盖率，并将其建模为时间t的幂函数：其中系数c_i，x_i分别是正实数与实数，自然数N代表回归测试的数目；2)同样运行各个回归测试，收集磁盘用量信息，并也将其建模为时间t的幂函数：其中系数s_i，y_i分别是正实数与实数，自然数N代表回归测试的数目；3)当对RTL代码进行少量改动时，由设计人员提供一组加权参数β_i i＝1，2，…，N，取作0≤β_i≤1，表示某模块与本次RTL代码改动的相关程度，相关程度越大取值越大；4)管理者尝试给出可用的总计算时间上限T及总磁盘用量上限S；5)用凸优化软件包求解下述几何规划问题：$\underset{t_i>0,\gamma >0}{\max }\gamma$s.t.$c_i{t_i}^{x_i}\ge {\beta }_i\gamma ,i=\mathrm{1,2},...,N$t₁+t₂+…+t_N≤T$s_1{t_1}^{y_1}+s_2{t_2}^{y_2}+...+s_N{t_N}^{y_N}\le S$得到最大的功能覆盖率γ^*和每个测试的最优运行时间6)管理者根据第5步的结果，给出总计算时间上限T及总磁盘用量上限S的变化范围，多次运行第5步中的几何规划问题，可以得到最大覆盖率γ^*与T，S的关系曲线，该曲线可作为管理者确定计算资源最优分配的依据，也就确定了每个测试的运行时间；7)按第6步分配的最优运行时间进行回归测试，得到真实的覆盖率和磁盘用量，并修正第1步和第2步中的幂函数模型，为下一次进行回归测试做准备。