| 发明名称 | 基于微阵列的空间滤波器 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种空间滤波测量装置（1）和空间滤波测量设备（2），包括至少一个传感器（4，5；41I–41IV；51）和空间滤波器。其中从测量对象（13）射出或反射的电磁辐射尤其是光通过所述空间滤波器在所述传感器（4，5；41I–41IV；51，52）上成像。本发明还涉及一种实施空间滤波测量的方法。根据本发明的所述空间滤波测量装置被进一步开发，所述空间滤波器被设计成具有可在各自的角位置上移动的镜元件（21–21″′）的微镜阵列。 | ||
| 申请公布号 | CN102859368A | 申请公布日期 | 2013.01.02 |
| 申请号 | CN201080062458.X | 申请日期 | 2010.10.12 |
| 申请人 | 微－埃普西龙光电股份有限公司 | 发明人 | M·德冈;N·达马斯科歇;M·谢弗佩;I·梅恩 |
| 分类号 | G01P3/36(2006.01)I | 主分类号 | G01P3/36(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 亓云 |
| 主权项 | 一种空间滤波测量装置（1），包括至少一个传感器（4，5；41I–41IV；51）和空间滤波器；从测量对象（13）射出或反射的电磁辐射特别是光通过所述空间滤波器在传感器（4，5；41I–41IV；51，52）上成像，其特征在于，所述空间滤波器是包括可移动镜元件（21–21″′）的镜阵列形式尤其是微镜阵列。 | ||
| 地址 | 德国德累斯顿-兰格布鲁克 | ||