| 发明名称 |
Process for minimizing electromigration in an electronic device |
| 摘要 |
<p>전자 회로에서 Ag 전자이동을 감소시키는 방법은 전자 회로를 전자이동 방지 조성물로 처리하는 단계를 포함한다. 이러한 공정은 레지스터, 캐패시터 및 디스플레이[예: 플라즈마 디스플레이 패널(PDP) 또는 액정 디스플레이(LCD)] 등의 서로 밀접한 전자 회로를 갖는 전자 장치의 제조시 유용하다.</p> |
| 申请公布号 |
KR101216577(B1) |
申请公布日期 |
2013.01.02 |
| 申请号 |
KR20077026176 |
申请日期 |
2006.05.09 |
| 申请人 |
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发明人 |
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| 分类号 |
C09D5/00;H01L21/768;H05K3/28 |
主分类号 |
C09D5/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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