发明名称 |
对样品进行光学分析的方法 |
摘要 |
一种用于光学分析样品的方法,该方法包括引导电磁辐射(EMR)的一个或多个频率穿过样品且到达部分反射的表面(9)上,所述部分反射的表面允许被引导到其上的EMR(6)被反射和透射,其中反射EMR(12)被引导回来穿过样品,以使得透射EMR(10)和反射EMR(12)通过样品的路径长度不同,其中透射EMR和反射EMR均被一个或多个检测器(11,15)检测,其特征在于,根据透射EMR(10)和反射EMR(12)之间的差来计算样品在EMR的一个或多个波长处的光学吸收。 |
申请公布号 |
CN101688828B |
申请公布日期 |
2013.01.02 |
申请号 |
CN200880023625.2 |
申请日期 |
2008.07.04 |
申请人 |
英国石油国际有限公司 |
发明人 |
A·I·汤森 |
分类号 |
G01N21/03(2006.01)I;G01N21/35(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/03(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
刘金凤;王忠忠 |
主权项 |
一种用于对样品进行光学分析的方法,该方法包括引导电磁辐射的一个或多个波长穿过样品且到达部分反射的表面上,所述部分反射的表面允许被引导到其上的电磁辐射被反射和透射,其中反射电磁辐射被引导回来穿过样品,以使得透射电磁辐射和反射电磁辐射穿过样品的路径长度不同,其中透射电磁辐射和反射电磁辐射均被一个或多个检测器检测,其特征在于,根据透射电磁辐射和反射电磁辐射之间的差来计算样品在电磁辐射的所述一个或多个波长处的光学吸收。 |
地址 |
英国米德尔塞克斯郡 |