发明名称 | 一种低功耗集成电路测试生成器 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种低功耗集成电路测试生成器,它包括时钟脉冲和被测电路(6),时钟脉冲(CLK)分别与循环计数器(1)和与门(3)电连接,循环计数器(1)分别与二输入或非门(4)和异或门阵列(5)电连接,二输入或非门(4)与与门(3)电连接,与门(3)与线性反馈移位寄存器(2)电连接,线性反馈移位寄存器(2)与异或门阵列(5)电连接,异或门阵列(5)与被测电路(6)电连接;解决了采用普通的同步二进制加法计数器等器件制成的测试向量生成器存在的电路器件多,线路结构复杂,价格高,容易出现错码等问题。 | ||
申请公布号 | CN202649410U | 申请公布日期 | 2013.01.02 |
申请号 | CN201220339561.0 | 申请日期 | 2012.07.13 |
申请人 | 贵州师范大学 | 发明人 | 王义;陈世国;阮方鸣 |
分类号 | G01R31/3183(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3183(2006.01)I |
代理机构 | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人 | 吴无惧 |
主权项 | 一种低功耗集成电路测试生成器,它包括时钟脉冲和被测电路(6),其特征在于:时钟脉冲(CLK)分别与循环计数器(1)和与门(3)电连接,循环计数器(1)分别与二输入或非门(4)和异或门阵列(5)电连接,二输入或非门(4)与与门(3)电连接,与门(3)与线性反馈移位寄存器(2)电连接,线性反馈移位寄存器(2)与异或门阵列(5)电连接,异或门阵列(5)与被测电路(6)电连接。 | ||
地址 | 550001 贵州省贵阳市宝山北路116号 |