| 摘要 |
<p>전자 사진 장치 및 프로세스 카트리지는 전자 사진 감광 부재; 현상 유닛; 및 클리닝 유닛을 포함하고, 여기서 서로 분리되어 있고 하기 조건을 만족시키는 오목부가 1 ㎠의 단위 면적 당 10개 이상의 밀도로 상기 전자 사진 감광 부재의 표면에 형성된다: 오목부의 깊이는 Rdv [μm]로 정의되고, 오목부의 단축 직경은 Lpc [μm]로 정의되고, 오목부의 장축 직경은 Rpc [μm]로 정의되고, 각각의 오목부의 장축 방향과 전자 사진 감광 부재의 표면의 이동 방향 사이에 형성된 각은θ[°]로 정의된다. 5[°]≤θ[°]≤85[°], 0.3×P [μm]≤Rdv [μm]≤0.5×P [μm], 1.1×P [μm]≤Lpc [μm]≤1.5×P [μm], 및 50/Sinθ[μm]≤Rpc [μm]≤1500 [μm]</p> |
