| 摘要 |
<p>본 발명에 의한 LED 칩 검사용 지그 유닛은, LED 칩이 안착되는 안착면과 안착면까지 상하로 연장된 프로브 삽입구멍을 갖는 안착부재, 안착부재의 프로브 삽입구멍을 통해 안착면에 놓인 LED 칩의 하면에 접촉하는 프로브를 구비하며 안착부재에 대해 승강 가능하게 배치되는 프로브 결합체, 프로브가 LED 칩의 하면에 접촉할 수 있도록 프로브 결합체를 상승시키는 프로브 이동 액츄에이터, 안착면에 배치되어 프로브 삽입구멍을 향해 수평 방향으로 이동 가능하게 설치되는 제 1 홀딩부재를 갖는 제 1 홀더, 안착면에 프로브 삽입구멍을 사이에 두고 제 1 홀딩부재와 마주하도록 배치되어 수평 방향으로 이동 가능하게 설치되는 제 2 홀딩부재를 갖는 제 2 홀더, 제 1 홀더 및 상기 제 2 홀더를 상호 근접하거나 상호 멀어지도록 이동시키는 홀더 작동 액츄에이터를 포함한다. 본 발명에 의한 LED 칩 검사용 지그 유닛은 전원 인가와 전기적 특성 검사를 위한 프로브를 LED 칩의 하면에 접촉시킬 수 있으므로, 프로브와 LED 칩의 상부에 설치되는 적분구 사이에 간섭이 발생하지 않는다.</p> |
