用于X射线成像中的散射校正的方法和系统

摘要

本发明的名称为用于X射线成像中的散射校正的方法和系统。公开用于使用散射X射线的反向跟踪来得出散射信息的方式。在某些实施例中，与从源进行到探测器的跟踪方案相反，跟踪从探测器上的相应位置到X射线辐射源的散射射线。在一种这样的方式中，反向跟踪使用密度积分容积来实现，这减少所执行的积分步骤。

主权项

一种用于估计散射的方法，包括：基于从源到探测器的X射线传送来生成初始容积；基于材料类型来表征在所述初始容积中的多个体素；基于所述多个体素来生成密度积分容积；以及跟踪一个或多个散射X射线，开始于所述探测器并且朝所述源前进，以便生成所述探测器上的多个离散位置的散射轮廓。