发明名称 一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置
摘要 本实用新型公开了一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置,包括安装板,所述安装板的上方设有可将测试抓手总成组合升降滑块上下移动的垂直移动装置;所述安装板的下方设有将测试抓手总成组合左右移动滑块水平移动的水平移动装置;还设有下端固联有测试抓手总成的测试抓手总成组合连接板,所述测试抓手总成组合连接板垂直导轨式地卡合与测试抓手总成组合左右移动滑块,其上端水平导轨式地卡合与测试抓手总成组合升降滑块。本实用新型的测试抓手组合模组装置,可在前、后和上、下两个方向上实现测试抓手总成组合的移动,有利于其下方的吸嘴准确抓取芯片完成测试。其结构新颖、功能全面、生产效率高,能同时抓取至少四块芯片进行测试。
申请公布号 CN202640359U 申请公布日期 2013.01.02
申请号 CN201220246695.8 申请日期 2012.05.29
申请人 格兰达技术(深圳)有限公司 发明人 林宜龙;付义超;唐召来;刘飞
分类号 B25J9/08(2006.01)I;B25J15/06(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 主分类号 B25J9/08(2006.01)I
代理机构 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人 齐永红
主权项 一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置,包括至少一个测试抓手组合运动模组,其特征在于:所述测试抓手组合运动模组包括安装板,还包括测试抓手总成组合升降滑块、测试抓手总成组合左右移动滑块,所述安装板的上方设有可将测试抓手总成组合升降滑块上下移动的垂直移动装置;所述安装板的下方设有将测试抓手总成组合左右移动滑块水平移动的水平移动装置;还设有下端固联有测试抓手总成装置的测试抓手总成组合连接板,所述测试抓手总成组合连接板垂直导轨式地卡合与测试抓手总成组合左右移动滑块,其上端水平导轨式地卡合与测试抓手总成组合升降滑块。
地址 518000 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园