发明名称 |
元件测试系统及其方法 |
摘要 |
本发明是有关于一种元件测试系统及其方法。其中,一第一测试设备侦测一第一元件被装载时测试第一元件;一第二测试设备侦测一第二元件被装载时测试第二元件;一仪器驱动模块控制一装卸模块装卸第一元件于第一测试设备,于第一测试设备测试第一元件时控制装卸模块装载第二元件于第二测试设备,藉由控制装卸模块错开装载或卸除元件于第一测试设备与第二测试设备的时间,使第一测试设备与第二测试设备达成并行执行第一元件与第二元件的元件测试作业。 |
申请公布号 |
CN101943731B |
申请公布日期 |
2013.01.02 |
申请号 |
CN200910158929.6 |
申请日期 |
2009.07.07 |
申请人 |
钰程科技股份有限公司 |
发明人 |
骆文彬;刘钊平;施云严 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 |
代理人 |
寿宁;张华辉 |
主权项 |
一种元件测试方法,其特征在于其包含:经由一仪器驱动模块控制一装卸模块装载一第一元件于一第一测试设备,该第一测试设备于该第一元件完成被装载时,输出一第一触发信号并测试该第一元件,于完成测试后输出一第一结束信号;该仪器驱动模块取得该第一触发信号时判定该第一元件被该第一测试设备所测试,同时控制该装卸模块装载一第二元件于一第二测试设备,该第二测试设备在该第二元件被装载时输出一第二触发信号并测试该第二元件,于完成测试后输出一第二结束信号;以及该仪器驱动模块取得该第二触发信号时判定该第二元件被该第二测试设备所测试,于该第二元件测试期间同步取得该第一结束信号时控制该装卸模块卸除该第一元件;以及该仪器驱动模块取得该第二结束信号时控制该装卸模块卸除该第二元件。 |
地址 |
中国台湾新竹市科学工业园区研新三路1号 |