发明名称 | 触控面板及触碰点的侦测方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种触控面板及触碰点的侦测方法,其中,触控面板包括至少一触控侦测列以及触碰点侦测模组。触控侦测列则包括N个第一触控侦测单元,其中N为正整数。各第一触控侦测单元依据被碰触的面积,来传送第一电容变化值。触碰点侦测模组依照第一触控侦测单元的排列顺序,使两个相邻的第一触控侦测单元传送的第一电容变化值进行差值运算,并藉以获得第一电容变化顺序分布。触碰点侦测模组并依据第一电容变化顺序分布来计算获得触控面板上的至少一个的第一触碰点数及第一触碰点的坐标。 | ||
申请公布号 | CN102043549B | 申请公布日期 | 2013.01.02 |
申请号 | CN200910204135.9 | 申请日期 | 2009.10.15 |
申请人 | 联阳半导体股份有限公司 | 发明人 | 吴仓志 |
分类号 | G06F3/044(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/044(2006.01)I |
代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人 | 刘芳 |
主权项 | 一种触控面板,包括:至少一触控侦测列,所述触控侦测列包括:N个第一触控侦测单元,各所述第一触控侦测单元依据被碰触的面积,来传送一第一电容变化值,其中N为正整数;以及一触碰点侦测模组,耦接所述多个第一触控侦测单元,依照所述N个第一触控侦测单元的排列顺序,使两个相邻的第一触控侦测单元传送的所述多个第一电容变化值进行一差值运算,以获得一第一电容变化顺序分布,所述触碰点侦测模组并依据所述第一电容变化顺序分布来计算获得所述触控面板上的至少一第一触碰点数及所述第一触碰点的坐标,其中所述触碰点侦测模组依据所述差值运算以获得多数个符号结果及多数个绝对差值,所述触碰点侦测模组依据所述第一电容变化顺序分布中出现的所述多个符号结果的次数来获得所述第一触碰点数。 | ||
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