发明名称 光学式测距装置及电子设备
摘要 本发明提供一种光学式测距装置及电子设备。该光学式测距装置中,在由遮光性树脂形成的二次模制件(9)及三次模制件(10)之间保持透镜架(11),该透镜架(11)由金属形成,保持发光透镜(5)及受光透镜(6)。透镜架(11)在表面及背面具有凹凸结构(11b)。因为大幅提高发光透镜(5)及受光透镜(6)与透镜架(11)的紧密结合力,所以能够防止发光透镜(5)、受光透镜(6)与透镜架(11)之间发生滑动。
申请公布号 CN102853809A 申请公布日期 2013.01.02
申请号 CN201210222556.6 申请日期 2012.06.28
申请人 夏普株式会社 发明人 和田秀夫;山口阳史;久保胜
分类号 G01C3/00(2006.01)I 主分类号 G01C3/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 岳雪兰
主权项 一种光学式测距装置,是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置;该光学式测距装置的特征在于,具有:发光元件,安装在安装部件上;发光透镜,由透光性树脂形成,将所述发光元件的射出光照射至所述测距对象物;受光元件,安装在所述安装部件上,用来检测来自所述测距对象物的反射光会聚的位置;受光透镜,由透光性树脂形成,使所述反射光会聚于所述受光元件;透光性树脂体,密封所述发光元件及所述受光元件;第一遮光性树脂体,覆盖所述透光性树脂体,以形成使所述射出光从所述发光元件照射至所述发光透镜的空间,以及使所述反射光从所述受光透镜照射至所述受光元件的空间;透镜架,由金属形成,保持所述发光透镜及所述受光透镜;第二遮光性树脂体,密封所述透镜架及所述第一遮光性树脂体;所述透镜架在表面及背面的、至少形成所述发光透镜及受光透镜的区域形成凹凸结构。
地址 日本大阪府