| 发明名称 |
一种半导体内存芯片多功能复用测试座 |
| 摘要 |
本实用新型涉及一种半导体内存芯片多功能复用测试座，包括：盖(1)、接触器(4)、底座(5)、插销(8)和插销弹簧(10)，所述接触器(4)固定在底座(5)上，插销(8)通过插销弹簧(10)固定在接触器(4)上，盖(1)置于最上层，并设有突块，突块正对接触器(4)和插销(8)，接触器(4)和插销(8)在突块的作用下张开连接。能适应多尺寸及多引脚复用测试，降低购买及保有数量，降低测试维护成本。 |
| 申请公布号 |
CN202649244U |
申请公布日期 |
2013.01.02 |
| 申请号 |
CN201220183173.8 |
申请日期 |
2012.04.27 |
| 申请人 |
海太半导体(无锡)有限公司 |
发明人 |
钱院生 |
| 分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
一种半导体内存芯片多功能复用测试座，其特征在于，包括：盖(1)、接触器(4)、底座(5)、插销(8)和插销弹簧(10)，所述接触器(4)固定在底座(5)上，插销(8)通过插销弹簧(10)固定在接触器(4)上，盖(1)置于最上层，并设有突块，突块正对接触器(4)和插销(8)，接触器(4)和插销(8)在突块的作用下张开连接。 |
| 地址 |
214000 江苏省无锡市新区出口加工区K5、K6地块 |
