半导体晶片分类装置

摘要

提供一种半导体晶片分类装置，其包括：多个旋转臂，可同时位于晶片载置部和集料块上；多个拾取器，分别上下移动地结合在上述多个旋转臂上。拾取器在晶片载置部拾取半导体晶片，且将拾取的半导体晶片移送到对应等级的集料块，以进行分类；以及旋转部，利用由旋转电机提供的驱动力使上述旋转臂向一个方向旋转。根据本发明，可以缩短分类工序所需的工作时间，同时减少施加在旋转电机上的负载，在持续的使用中也可以进行精密的控制，可以提高半导体晶片的分类工序的效率和准确性。