电子元件之测量方法及其测量装置

摘要

一种电子元件之测量方法及其测量装置，其测量方法包含有：提供一时脉产生器、一处理器与一相位侦测器，并形成一电性回路；将第一待测电子元件连接于时脉产生器；提供电源给时脉产生器，以产生一时脉讯号；处理器根据时脉讯号的频率值计算出第一待测电子元件的数值；将第二待测电子元件连接于时脉产生器；使时脉讯号通过第二待测电感器，以产生一相位移时脉讯号；透过相位侦测器取得相位移时脉讯号的相位；处理器根据相位移时脉讯号的相位与时脉讯号的相位计算出第二待测电子元件的数值。