发明名称 APPARATUS FOR SCANNING HIGH SPEED DOPPLER OCT AND MEASURING METHOD USING THEREOF
摘要 <p>본 발명은, 레이저 발생장치에서 조사되는 레이저를 기준광(reference light : 基準光)과 측정광(measurement light: 測定光)으로 분광하는 제1 분광(分光)부; 상기 제1 분광부에서 분광 된 측정광을 동일한 비율의 파장으로 분할하여 평행하도록 제1 측광과 제2 측광을 형성하는 분리부(beam splitter); 상기 분리부에서 분할된 제1,2 측광의 각도를 변화시키는 제2 분광부; 상기 제2 분광부에서 분광된 제1 측광의 방향을 전환하는 제1 미러; 상기 제2 분광부에서 분광된 제2 측광의 방향을 전환하는 제2 미러; 상기 제1,2 측광을 한점으로 모이도록 진행 방향을 변환하는 제3 분광부; 상기 제1,2 측광의 진행방향을 대상물 측으로 변환시키며, 제1,2 측광의 간격을 이격시켜 대상물에 조사하는 제3 미러; 상기 대상물에서 반사되는 제1 측광의 주파수를 이동시키며, 상기 제1 미러와 제3 분광부 간에 설치되는 제1 주파수 이동부; 상기 제2 분광부와 제2 미러 간에 설치되며, 상기 2 측광의 주파수 위치를 이동시키는 제2 주파수 이동부; 상기 분리부를 통해 입력되는 측정광과 제1 분광부에서 분광된 기준광을 입력받아 구분하는 분류부; 및 상기 분류부에서 전송되는 기준광과 측정광의 제1,2 측광을 비교 분석하여 이미지화하는 변환부;를 포함하는, 고속 도플러 OCT 스캔장치에 관한 것이다. 또한, 레이저 발생장치에서 조사되는 레이저를 제1 분광부에서 기준광과 측정광으로 분광하는 제1 분광단계; 상기 측정광을 분리부에서 평행방향으로 제1,2 측광으로 분할하는 분할단계; 상기 분할단계를 통해 분할된 제1,2 측광을 제2 분광부에서 다른 방향으로 분광하는 제2 분광단계; 상기 제1 측광을 제1 미러를 통해 방향을 전환하고, 상기 제2 측광을 제2 미러를 통해 방향을 전환하며, 제3 분광부에서 제1,2 측광을 한점으로 모이도록 하여 제3 미러로 전송하는 집광단계; 상기 제3 미러를 통해 제1,2 측광이 대상물에 간격 이격되어 동시에 조사되도록 하는 조사단계; 상기 대상물에서 반사되는 제1,2 측광을 제3 미러를 통해 제3 분광부로 전송하는 반송단계; 상기 대상물에서 반송되어 제3 분광부를 통해 전송되는 제1 측광이 상기 제1 미러와 제3 분광부 간에 설치되는 제1 주파수 이동부를 통해 주파수가 이동되는 제1 주파수 이동단계; 상기 대상물에서 반송되어 제3 분광부를 통해 전송되는 제2 측광이 상기 제2 분광부와 제2 미러 간에 설치되는 제2 주파수 이동부를 통해 주파수 위치가 이동되는 제2 주파수 이동단계; 상기 제1,2 주파수 이동부를 통해 이동된 상기 제1,2 측광이 합쳐져 분리부를 통해 분류부로 전송되며, 상기 제1 분광단계에서 분광 된 기준광이 분류부로 전송되어 상기 분류부를 통해 구분되는 구분단계; 및 상기 분류부에서 전송되는 기준광 및 제1,2 측광으로 이루어지는 측정광을 변환부에서 비교 분석하고, 이미지화하여 상기 변환부와 연결되어지는 출력장치로 전송하는 이미지화단계;를 포함하는, 고속 도플러 OCT 스캔장치를 이용한 스캐닝 방법에 관한 것이다.</p>
申请公布号 KR101216449(B1) 申请公布日期 2012.12.28
申请号 KR20100101103 申请日期 2010.10.15
申请人 发明人
分类号 A61B5/00;G01B9/02 主分类号 A61B5/00
代理机构 代理人
主权项
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