METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND MEMORY DEVICE

摘要

집적회로의 테스트 방법은, 집적회로의 동작 시뮬레이션을 통해 다수의 노드의 신호 파형을 얻는 단계; 상기 다수의 노드의 신호 파형으로부터, 상기 다수의 노드의 신호의 논리값이 변경되는 지점의 정보를 샘플링해 텍스트 파일을 생성하는 단계; 및 상기 텍스트 파일을 분석하는 단계를 포함한다.