发明名称 光学部件贴合方法以及使用该方法的装置
摘要 本发明涉及一种光学部件贴合方法以及使用该方法的装置。从膜供给部(1)拉出而供给在一面附设有保护膜、在另一面附设有分离膜的带状偏光膜(F),进行外观检查后,保留分离膜而用激光装置(11)半切断保护膜及偏光膜(F)。其后,搬送并引导至剥离机构(4),边利用刀口剥离分离膜,边将偏光膜(F)送入贴合机构(5)。与此偏光膜(5)的送入动作同步,将自面板搬送装置(18)搬送来的液晶面板(W)搬送并引导至贴合机构(5),将偏光膜(F)贴合于液晶面板(W)上。
申请公布号 CN102837437A 申请公布日期 2012.12.26
申请号 CN201210349545.4 申请日期 2007.10.12
申请人 日东电工株式会社 发明人 北田和生;龟田祥弘;西田干司;由良友和;天野贵一;大桥宏通;日野敦司;松尾直之
分类号 B29D11/00(2006.01)I;B23K26/08(2006.01)I;B23K26/40(2006.01)I;B32B38/00(2006.01)I;B32B41/00(2006.01)I;G02B5/30(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I 主分类号 B29D11/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 岳雪兰
主权项 一种方法,检查至少包含连续状光学功能薄膜以及贴合并设置在该连续状光学功能薄膜的一侧面上的分离膜的连续状积层薄膜体中所述光学功能薄膜的缺陷,并且能够在用于将该光学功能薄膜粘贴于单片体上的贴合装置中使用,其特征在于,包括以下步骤:朝向检查位置送出所述连续状积层薄膜体,在该连续状积层薄膜体到达所述检查位置之前的位置,从该连续状积层薄膜体剥离分离膜;将已剥离分离膜的所述光学功能薄膜或者光学功能薄膜与保护薄膜的积层体引导至所述检查位置,进行所述光学功能薄膜的缺陷检查;当在所述光学功能薄膜上发现缺陷部分时,由控制部计算出该缺陷部分的坐标位置;在已完成检查的连续状光学功能薄膜的所述一侧面上,再次粘贴连续状的分离膜。
地址 日本大阪府