发明名称 双面外露的半导体器件及其制作方法
摘要 本发明涉及一种双面外露的半导体器件及其制作方法,在导热但不导电的第二引线框架上,固定连接导电的第一引线框架;将芯片倒装,使其顶部的栅极、源极与其下方第一引线框架的若干引脚对应形成电性连接;将倒装的芯片与第一、第二引线框架模压塑封,使第二引线框架的散热片,及所述芯片底部的漏极,分别暴露在该半导体器件正反两面的塑封体以外。因而,在不增加半导体器件尺寸的前提下,通过暴露所述散热片及芯片漏极能够有效改善散热性能。
申请公布号 CN102842556A 申请公布日期 2012.12.26
申请号 CN201110185096.X 申请日期 2011.06.21
申请人 万国半导体(开曼)股份有限公司 发明人 龚玉平;薛彦迅
分类号 H01L23/495(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I 主分类号 H01L23/495(2006.01)I
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人 张静洁;徐雯琼
主权项 一种双面外露的半导体器件,其特征在于,该器件包含在制作时由下至上依次连接的以下部件:第二引线框架(20),其由导热但不导电的材料制成,并设置有散热片(21);第一引线框架(10),其由导电材料制成,并设置有相互分隔的若干引脚;倒装的半导体芯片(30),其设置有若干顶部电极和若干底部电极;所述芯片(30)的顶部电极向下,并对应与所述第一引线框架(10)的若干引脚电性连接;该器件中还包含,塑封体(40),其覆盖所述倒装的芯片(30),并将该芯片(30)与第一、第二引线框架模压塑封;所述第二引线框架(20)的散热片(21),及所述芯片(30)的底部电极,分别暴露在该器件正反两面的所述塑封体(40)以外。
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