发明名称 用于确定多个电容性传感器元件的电容的电路装置
摘要 本发明涉及用于确定数量n个电容性传感器元件(SE1-SEn)的电容的电路装置,所述电容性传感器元件的相应的电容与操作有关地改变,所述电路装置包括至少一个积聚电容器(CS1-CSm);参考电压源(RQ);与所述至少一个积聚电容器电连接的分析装置(AE),所述分析装置分析在所述至少一个积聚电容器处存在的电压用于确定相应的传感器元件的电容;控制单元(MC),用于产生至少一个控制信号(SS1-SSk);和至少一个集成回路(IC1-ICm),所述至少一个集成回路与所述参考电压源和所述至少一个积聚电容器电连接并且被施加至少一个控制信号。所述至少一个集成回路包括数量k个换向开关(WS1-WSk),其中相应的换向开关分别被分配给数量n个传感器元件之一,相应的换向开关的开关位置取决于所述至少一个控制信号,和相应的换向开关在第一开关位置中将分别所分配的传感器元件与所述参考电压源连接并且相应的换向开关在第二开关位置中将分别所分配的传感器元件与所述至少一个积聚电容器连接用于转移电荷。
申请公布号 CN102844986A 申请公布日期 2012.12.26
申请号 CN201180007489.X 申请日期 2011.01.24
申请人 E.G.O.电气设备制造股份有限公司 发明人 R.克劳斯
分类号 H03K17/96(2006.01)I;H03K17/00(2006.01)I 主分类号 H03K17/96(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 臧永杰;卢江
主权项 用于确定数量n 个电容性传感器元件(SE1‑SEn)的电容的电路装置,所述电容性传感器元件的相应的电容与操作有关地改变,所述电路装置具有:‑至少一个积聚电容器(CS1‑CSm;CS1‑CSk),‑参考电压源(RQ),与所述至少一个积聚电容器电连接的分析装置(AE),所述分析装置分析在所述至少一个积聚电容器处存在的电压用于确定相应的传感器元件的电容,‑控制单元(MC),用于产生至少一个控制信号(SS1‑SSk;SS1‑SSm),和‑至少一个集成回路(IC1‑ICm),所述至少一个集成回路与所述参考电压源和所述至少一个积聚电容器电连接并且被施加至少一个控制信号,其中所述至少一个集成回路包括:‑数量k个换向开关(WS1‑WSk),其中‑相应的换向开关分别被分配给数量n个传感器元件之一,‑相应的换向开关的开关位置取决于所述至少一个控制信号,和‑相应的换向开关在第一开关位置中将分别所分配的传感器元件与所述参考电压源连接并且相应的换向开关在第二开关位置中将分别所分配的传感器元件与所述至少一个积聚电容器连接用于转移电荷。
地址 德国奥伯德丁根